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離子分子質(zhì)譜儀的主要用途和送樣時(shí)注意事項

2021-11-15
   離子分子質(zhì)譜儀工作耐壓值高,脈動(dòng)小、穩定可靠。進(jìn)樣器與整機分體式模式,具有良好的抗干擾性和可拓展性。接頭、流路均使用進(jìn)口Peek材料,耐強酸強堿。連續自動(dòng)再生電化學(xué)抑制器,抑制容量高。高分辨率觸摸屏配有WinCE操作系統,以及全中/英文顯示的數據處理系統。
 
  離子分子質(zhì)譜儀的主要用途:
  1.摻雜劑與雜質(zhì)的深度剖析。
 
  2.薄膜的成份及雜質(zhì)測定。
 
  3.超薄薄膜、淺植入的超高深度辨析率剖析。
 
  4.硅材料整體分析,包含B,C,O,以及N。
 
  5.工藝工具(離子植入)的高精度分析。
 
  6.可以用于材料表面和表層的化學(xué)成份分析?;瘜W(xué)元素或化合物在表面和塊體材料內部的分布。以及生物組織表面和內部成份和分布分析。包括如半導體,生物,冶金,汽車(chē)等領(lǐng)域。
 
  離子分子質(zhì)譜儀送樣時(shí)注意事項:
  1、待測試的樣品表面不能被沾污;
 
  2、易潮解,易與空氣發(fā)生反應的樣品,在送樣過(guò)程中應注意隔離空氣;
 
  3、用帶蓋的玻璃小試管、小容量瓶等容器裝樣;不要直接使用塑料容器、塑料袋、含硅的膠帶或膠面和紙袋,以免硅樹(shù)脂或纖維污染樣品表面;
 
  4、如為揮發(fā)性高分子樣品或具揮發(fā)性覆膜,務(wù)必先自行在真空加熱爐中抽除揮發(fā)性分子;如果樣品置入真空腔后,隔夜無(wú)法抽至5X10E-7torr以下,測試將被取消;

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